Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement
  • 中科院分区:2区
  • JCR分区:Q1
  • CiteScore :9

Ieee Transactions On Instrumentation And MeasurementSCIE

国际简称:IEEE T INSTRUM MEAS 中文名称:仪器仪表和测量的IEEE Transactions

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement杂志是一本工程技术-工程:电子与电气应用杂志。是一本享有盛誉的顶级学术杂志,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版,该期刊创刊于1952年,出版周期为Bimonthly,始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2023年12月升级版中,被归类为大类学科分区2区,显示出其卓越的学术水平和影响力。

  • ISSN:0018-9456

  • 出版地区:UNITED STATES

  • 出版周期:Bimonthly

  • E-ISSN:1557-9662

  • 创刊时间:1952

  • 出版语言:English

  • 是否OA:未开放

  • 预计审稿时间: 约6.8个月

  • 影响因子:5.6

  • 是否预警:否

  • 研究方向:工程技术,工程:电子与电气

  • 年发文量:2247

  • 研究类文章占比:99.47%

  • Gold OA文章占比:6.42%

  • H-index:100

  • 出版国人文章占比:0.31

  • 开源占比:0.0774

  • 文章自引率:0.2321...

杂志简介

征集的论文应涉及创新解决方案,以开发和使用电气和电子仪器和设备来测量、监控和/或记录物理现象,从而推动测量科学、方法、功能和应用的发展。这些论文的范围可能包括:(1) 测量的理论、方法和实践;(2) 用于生成、获取、调节和处理信号的仪器和测量系统及组件的设计、开发和评估;(3) 分析、表示、显示和保存从一组测量中获得的信息;(4) 对仪器和测量领域技术标准的建立和维护提供科学和技术支持。

值得一提的是,Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement已成功入选 SCIE(科学引文索引扩展板) 等国际知名数据库,这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来,该杂志一直保持着Bimonthly的出版周期,以高质量、高水平的学术内容著称。在JCR(Journal Citation Reports)分区等级中,该期刊荣获Q1评级。此外,其CiteScore指数达到9,该期刊2023年的影响因子达到5.6,再次验证了其优秀学术水平。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement是一本未开放获取期刊,但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说,该期刊都是一份不可或缺的重要资源。

期刊指数

中科院SCI分区
CiteScore指数
自引率
发文量

中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界,中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此,对于科研工作者来说,了解中科院SCI分区的标准和方法,以及具体的分区结果,对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。

CiteScore(或称为引用指数)是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数,这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。

自引率的计算公式为:自引率 = (期刊自己发表的文章被自己引用的次数) / (期刊自己发表的文章总数)。其中,期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文,包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高,可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。

中科院分区表

中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术 2区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表
2区 2区

JCR 分区(2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

CiteScore 分区(2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
9 1.536 1.741
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Physics and Astronomy 小类:Instrumentation Q1 13 / 141

91%

大类:Physics and Astronomy 小类:Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

文章摘录

  • Automatic Detection of Congestive Heart Failure Based on Multiscale Residual UNet plus plus : From Centralized Learning to Federated Learning Author: Zou, Liang; Huang, Zexin; Yu, Xinhui; Zheng, Jiannan; Liu, Aiping; Lei, Meng Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3227955
  • Simultaneous Implementation of the High Reliability and Accuracy in a Fiber Bragg Grating Sensing System for Space Application Author: Zhu, Yunhong; Jin, Jing; Wang, Xiaowei; Tan, Shen; Li, Tiezhi; Xu, Hongfei Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2023.3262259
  • A Dual Transformer Super-Resolution Network for Improving the Definition of Vibration Image Author: Zhu, Yang; Wang, Sen; Zhang, Yinhui; He, Zifen; Wang, Qingjian Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3222503
  • Multi-Information Fusion Fault Diagnosis of Bogie Bearing Under Small Samples via Unsupervised Representation Alignment Deep Q-Learning Author: Zhu, Yan; Liang, Xifeng; Wang, Tiantian; Xie, Jingsong; Yang, Jinsong Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3225008
  • ConvLSTM and Self-Attention Aided Canonical Correlation Analysis for Multioutput Soft Sensor Modeling Author: Zhu, Xiuli; Damarla, Seshu Kumar; Hao, Kuangrong; Huang, Biao; Chen, Hongtian; Hua, Yicun Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3225004
  • Interpolated Individual Weighting Subband Volterra Filter for Nonlinear Active Noise Control Author: Zhu, Wenying; Shi, Boqiang; Feng, Zhipeng Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2022.3223146
  • 2-D Photo-Thermal Distribution and Structures of Flip-Chip Mini Light-Emitting Diodes by Microscopic Hyperspectral Imaging Author: Zhu, Li-Hong; Du, Wu-Jun; Huang, Jia-En; Chen, Huan-Ting; Gao, Yu-Lin; Gong, Hong-Lin; Tong, Chang-Dong; Wu, Ting-Zhu; Guo, Wei-Jie; Guo, Zi-Quan; Guo, Hao-Chung; Chen, Zhong; Lu, Yi-Jun Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2023.3251405
  • A New Residual Generation-Based Fault Estimation Approach for Cyber-Physical Systems Author: Zhu, Jun-Wei; Xia, Zhen-Hao; Wang, Xin Journal: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. 2023; Vol. 72, Issue , pp. -. DOI: 10.1109/TIM.2023.3239637

免责声明

本站合法持有《出版物经营许可证》,仅销售经国家新闻出版署批准的合法期刊,不是任何杂志官网,不涉及出版事务。本站仅提供有限咨询服务,需要用户自己向出版商投稿且没有绿色通道,是否录用一切以出版商通知为准。提及的第三方名称或商标,其知识产权均属于相应的出版商或期刊,本站与上述机构无从属关系,所有引用均出于解释服务内容的考量,符合商标法规范。本页信息均由法务团队进行把关,若期刊信息有任何问题,请联系在线客服,我们会认真核实处理。 若用户需要出版服务,请联系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

发表咨询 加急咨询 投稿指南 润稿咨询 返回首页