Ieee Transactions On Reliability
  • 中科院分区:2区
  • JCR分区:Q1
  • CiteScore :12.2

Ieee Transactions On ReliabilitySCIE

国际简称:IEEE T RELIAB 中文名称:可靠性交易

Ieee Transactions On Reliability杂志是一本工程技术-工程:电子与电气应用杂志。是一本享有盛誉的顶级学术杂志,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版,该期刊创刊于1963年,出版周期为Quarterly,始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2023年12月升级版中,被归类为大类学科分区2区,显示出其卓越的学术水平和影响力。

  • ISSN:0018-9529

  • 出版地区:UNITED STATES

  • 出版周期:Quarterly

  • E-ISSN:1558-1721

  • 创刊时间:1963

  • 出版语言:English

  • 是否OA:未开放

  • 预计审稿时间: 约4.5个月

  • 影响因子:5

  • 是否预警:否

  • 研究方向:工程技术,工程:电子与电气

  • 年发文量:132

  • 研究类文章占比:98.48%

  • Gold OA文章占比:16.74%

  • H-index:86

  • 出版国人文章占比:0.38

  • 开源占比:0.0455

  • 文章自引率:0.0847...

杂志简介

《IEEE 可靠性学报》是一本关于可靠性及其相关学科的同行评审期刊,包括但不限于可维护性、故障物理学、寿命测试、预测、可靠性设计和制造、系统的可靠性、网络可用性、任务成功、保修、安全性和各种有效性衡量标准。符合出版条件的主题范围从硬件到软件、从材料到系统、从消费和工业设备到制造工厂、从单个项目到网络、从改进事物的技术到预测和测量现场行为的方法。作为一门支持新技术和现有技术的工程学科,我们不断扩展到保障科学的新领域。

值得一提的是,Ieee Transactions On Reliability已成功入选 SCIE(科学引文索引扩展板) 等国际知名数据库,这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来,该杂志一直保持着Quarterly的出版周期,以高质量、高水平的学术内容著称。在JCR(Journal Citation Reports)分区等级中,该期刊荣获Q1评级。此外,其CiteScore指数达到12.2,该期刊2023年的影响因子达到5,再次验证了其优秀学术水平。

Ieee Transactions On Reliability是一本未开放获取期刊,但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了计算机科学-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说,该期刊都是一份不可或缺的重要资源。

期刊指数

中科院SCI分区
CiteScore指数
自引率
发文量

中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界,中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此,对于科研工作者来说,了解中科院SCI分区的标准和方法,以及具体的分区结果,对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。

CiteScore(或称为引用指数)是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数,这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。

自引率的计算公式为:自引率 = (期刊自己发表的文章被自己引用的次数) / (期刊自己发表的文章总数)。其中,期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文,包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高,可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。

中科院分区表

中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
计算机科学 2区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机:硬件 COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING 计算机:软件工程 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
2区 2区 2区

JCR 分区(2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 8 / 59

87.3%

学科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 13 / 131

90.5%

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 65 / 352

81.7%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 7 / 59

88.98%

学科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 14 / 131

89.69%

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 42 / 354

88.28%

CiteScore 分区(2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
12.2 1.511 1.989
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 7 / 207

96%

大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q1 57 / 797

92%

文章摘录

  • Novel Discriminant Locality Preserving Projection Integrated With Monte Carlo Sampling for Fault Diagnosis Author: He, Yan-Lin; Li, Kun; Liang, Li-Long; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 166-176. DOI: 10.1109/TR.2021.3115108
  • Fault Diagnosability of Networks With Fault-Free Block at Local Vertex Under MM* Model Author: Huang, Yanze; Lin, Limei; Lin, Yuhang; Xu, Li; Hsieh, Sun-Yuan Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 372-383. DOI: 10.1109/TR.2021.3129257
  • Improved Locality Preserving Projections Based on Heat-Kernel and Cosine Weights for Fault Classification in Complex Industrial Processes Author: Zhang, Ning; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong; He, Yan-Lin Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 204-213. DOI: 10.1109/TR.2021.3139539
  • Resilience Enhancement for Multistate Interdependent Infrastructure Networks: From a Preparedness Perspective Author: Wang, Kai; Xu, Zhaoping; Liu, Yu; Fang, Yiping Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 190-203. DOI: 10.1109/TR.2021.3132774
  • SeTransformer: A Transformer-Based Code Semantic Parser for Code Comment Generation Author: Li, Zheng; Wu, Yonghao; Peng, Bin; Chen, Xiang; Sun, Zeyu; Liu, Yong; Paul, Doyle Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 258-273. DOI: 10.1109/TR.2022.3154773
  • Reliability of a Distributed Data Storage System Considering the External Impacts Author: Kou, Gang; Yi, Kunxiang; Xiao, Hui; Peng, Rui Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 3-14. DOI: 10.1109/TR.2022.3161638
  • Reliability Modeling and Assessment for a Cyber-Physical System With a Complex Boundary Behavior Author: Gong, Hongfang; Li, Renfa; An, Jiyao; Xie, Guoqi Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 224-239. DOI: 10.1109/TR.2022.3160460
  • An Intelligent Resource Management Solution for Hospital Information System Based on Cloud Computing Platform Author: Gong, Siqian; Zhu, Xiaomin; Zhang, Runtong; Zhao, Hongmei; Guo, Chao Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 329-342. DOI: 10.1109/TR.2022.3161359

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