Ieee Transactions On ReliabilitySCIE
国际简称：IEEE T RELIAB 中文名称：可靠性交易Ieee Transactions On Reliability杂志是一本工程技术-工程：电子与电气应用杂志。是一本享有盛誉的顶级学术杂志，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版，该期刊创刊于1963年，出版周期为Quarterly，始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2023年12月升级版中，被归类为大类学科分区2区，显示出其卓越的学术水平和影响力。
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ISSN：0018-9529
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出版地区：UNITED STATES
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出版周期：Quarterly
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E-ISSN：1558-1721
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创刊时间：1963
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出版语言：English
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是否OA：未开放
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预计审稿时间： 约4.5个月
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影响因子：5
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是否预警：否
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研究方向：工程技术,工程：电子与电气
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年发文量：132
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研究类文章占比：98.48%
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Gold OA文章占比：16.74%
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H-index：86
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出版国人文章占比：0.38
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开源占比：0.0455
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文章自引率：0.0847...
杂志简介
《IEEE 可靠性学报》是一本关于可靠性及其相关学科的同行评审期刊，包括但不限于可维护性、故障物理学、寿命测试、预测、可靠性设计和制造、系统的可靠性、网络可用性、任务成功、保修、安全性和各种有效性衡量标准。符合出版条件的主题范围从硬件到软件、从材料到系统、从消费和工业设备到制造工厂、从单个项目到网络、从改进事物的技术到预测和测量现场行为的方法。作为一门支持新技术和现有技术的工程学科，我们不断扩展到保障科学的新领域。
值得一提的是，Ieee Transactions On Reliability已成功入选 SCIE（科学引文索引扩展板） 等国际知名数据库，这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来，该杂志一直保持着Quarterly的出版周期，以高质量、高水平的学术内容著称。在JCR（Journal Citation Reports）分区等级中，该期刊荣获Q1评级。此外，其CiteScore指数达到12.2，该期刊2023年的影响因子达到5，再次验证了其优秀学术水平。
Ieee Transactions On Reliability是一本未开放获取期刊，但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了计算机科学-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说，该期刊都是一份不可或缺的重要资源。
期刊指数
中科院SCI分区
CiteScore指数
自引率
发文量
中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界，中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此，对于科研工作者来说，了解中科院SCI分区的标准和方法，以及具体的分区结果，对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。
CiteScore（或称为引用指数）是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数，这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。
自引率的计算公式为：自引率 = （期刊自己发表的文章被自己引用的次数） / （期刊自己发表的文章总数）。其中，期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文，包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高，可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。
中科院分区表
中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版
| Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
| 否 | 否 | 计算机科学 2区 |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
计算机：硬件
COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING
计算机：软件工程
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
2区
2区
2区
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JCR 分区（2023-2024年最新版）
| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q1 | 8 / 59 |
87.3% |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING | SCIE | Q1 | 13 / 131 |
90.5% |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 65 / 352 |
81.7% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q1 | 7 / 59 |
88.98% |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING | SCIE | Q1 | 14 / 131 |
89.69% |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 42 / 354 |
88.28% |
CiteScore 分区（2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||
| 12.2 | 1.511 | 1.989 |
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文章摘录
- Novel Discriminant Locality Preserving Projection Integrated With Monte Carlo Sampling for Fault Diagnosis Author: He, Yan-Lin; Li, Kun; Liang, Li-Long; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 166-176. DOI: 10.1109/TR.2021.3115108
- Fault Diagnosability of Networks With Fault-Free Block at Local Vertex Under MM* Model Author: Huang, Yanze; Lin, Limei; Lin, Yuhang; Xu, Li; Hsieh, Sun-Yuan Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 372-383. DOI: 10.1109/TR.2021.3129257
- Improved Locality Preserving Projections Based on Heat-Kernel and Cosine Weights for Fault Classification in Complex Industrial Processes Author: Zhang, Ning; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong; He, Yan-Lin Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 204-213. DOI: 10.1109/TR.2021.3139539
- Resilience Enhancement for Multistate Interdependent Infrastructure Networks: From a Preparedness Perspective Author: Wang, Kai; Xu, Zhaoping; Liu, Yu; Fang, Yiping Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 190-203. DOI: 10.1109/TR.2021.3132774
- SeTransformer: A Transformer-Based Code Semantic Parser for Code Comment Generation Author: Li, Zheng; Wu, Yonghao; Peng, Bin; Chen, Xiang; Sun, Zeyu; Liu, Yong; Paul, Doyle Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 258-273. DOI: 10.1109/TR.2022.3154773
- Reliability of a Distributed Data Storage System Considering the External Impacts Author: Kou, Gang; Yi, Kunxiang; Xiao, Hui; Peng, Rui Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 3-14. DOI: 10.1109/TR.2022.3161638
- Reliability Modeling and Assessment for a Cyber-Physical System With a Complex Boundary Behavior Author: Gong, Hongfang; Li, Renfa; An, Jiyao; Xie, Guoqi Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 224-239. DOI: 10.1109/TR.2022.3160460
- An Intelligent Resource Management Solution for Hospital Information System Based on Cloud Computing Platform Author: Gong, Siqian; Zhu, Xiaomin; Zhang, Runtong; Zhao, Hongmei; Guo, Chao Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 329-342. DOI: 10.1109/TR.2022.3161359
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国际自动化与计算杂志中科院分区：4区 CiteScore：6.4 -
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智能与模糊系统杂志中科院分区：4区 CiteScore：3.4 -
Visual Informatics
视觉信息学中科院分区：3区 CiteScore：6.7 -
Ieee Transactions On Green Communications And Networking
IEEE 绿色通信与网络通讯中科院分区：2区 CiteScore：9.3 -
Visual Computing For Industry, Biomedicine, And Art
工业、生物医药和艺术领域的视觉计算中科院分区：4区 CiteScore：5.6 -
Big Data Mining And Analytics
大数据挖掘与分析中科院分区：1区 CiteScore：20.9 -
Cybersecurity
网络安全中科院分区：4区 CiteScore：7.3 -
Ieee Transactions On Emerging Topics In Computational Intelligence
IEEE 计算智能新兴主题通讯中科院分区：3区 CiteScore：10.3 -
Ieee Transactions On Sustainable Computing
IEEE 可持续计算学报中科院分区：3区 CiteScore：7.7
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