Ieee Sensors Journal杂志是一本工程:电子与电气-工程技术应用杂志。是一本享有盛誉的顶级学术杂志,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版,该期刊创刊于2001年,出版周期为semi-monthly,始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2023年12月升级版中,被归类为大类学科分区2区,显示出其卓越的学术水平和影响力。
ISSN:1530-437X
出版地区:UNITED STATES
出版周期:semi-monthly
E-ISSN:1558-1748
创刊时间:2001
出版语言:English
是否OA:未开放
预计审稿时间: 约6.3个月
影响因子:4.3
是否预警:否
研究方向:工程:电子与电气,工程技术
年发文量:3190
研究类文章占比:97.99%
Gold OA文章占比:5.71%
H-index:100
出版国人文章占比:0.29
开源占比:0.0704
文章自引率:0.1395...
IEEE 传感器期刊感兴趣的领域是用于感测和转换物理、化学和生物现象的设备的理论、设计、制造、生产和应用,重点是传感器和集成传感器-执行器的电子和物理方面。 IEEE 传感器杂志涉及以下内容:
-传感器现象学、建模和评估
-传感器材料、加工和制造
-化学和气体传感器
-微流体和生物传感器
-光学传感器
-物理传感器:温度、机械、磁性和其他
-声学和超声波传感器
-传感器封装
-传感器网络
-传感器应用
-传感器系统:信号、处理和接口
-执行器和传感器电源系统
-高精度和稳定性(放大、滤波、线性化、调制/解调)和恶劣条件下(EMC、辐射、湿度、温度);能量消耗/收集
-传感器数据处理(利用传感器数据进行软计算,例如模式识别、机器学习、进化计算;传感器数据融合、波处理,例如电磁和声波;以及非波处理,例如化学、重力、粒子、热、辐射和非辐射传感器数据,基于传感器数据的检测、估计和分类)
-工业实践中的传感器
值得一提的是,Ieee Sensors Journal已成功入选 SCIE(科学引文索引扩展板) 等国际知名数据库,这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来,该杂志一直保持着semi-monthly的出版周期,以高质量、高水平的学术内容著称。在JCR(Journal Citation Reports)分区等级中,该期刊荣获Q1评级。此外,其CiteScore指数达到7.7,该期刊2023年的影响因子达到4.3,再次验证了其优秀学术水平。
Ieee Sensors Journal是一本未开放获取期刊,但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了综合性期刊-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说,该期刊都是一份不可或缺的重要资源。
中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界,中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此,对于科研工作者来说,了解中科院SCI分区的标准和方法,以及具体的分区结果,对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。
CiteScore(或称为引用指数)是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数,这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。
自引率的计算公式为:自引率 = (期刊自己发表的文章被自己引用的次数) / (期刊自己发表的文章总数)。其中,期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文,包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高,可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。
中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
否 | 否 | 综合性期刊 2区 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
仪器仪表
PHYSICS, APPLIED
物理:应用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
2区
2区
3区
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按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 83 / 352 |
76.6% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 15 / 76 |
80.9% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 48 / 179 |
73.5% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 99 / 354 |
72.18% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 15 / 76 |
80.92% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q1 | 39 / 179 |
78.49% |
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||
7.7 | 1.084 | 1.424 |
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若用户需要出版服务,请联系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。