Journal Of Microelectromechanical Systems杂志是一本工程技术-工程:电子与电气应用杂志。是一本国际优秀学术杂志,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版,该期刊创刊于1992年,出版周期为Bimonthly,始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2023年12月升级版中,被归类为大类学科分区3区,显示出其优秀的学术水平和影响力。
ISSN:1057-7157
出版地区:UNITED STATES
出版周期:Bimonthly
E-ISSN:1941-0158
创刊时间:1992
出版语言:English
是否OA:未开放
预计审稿时间: 约3.0个月
影响因子:2.5
是否预警:否
研究方向:工程技术,工程:电子与电气
年发文量:78
研究类文章占比:100.00%
Gold OA文章占比:20.45%
H-index:131
出版国人文章占比:0.15
开源占比:0.2209
文章自引率:0.0740...
感兴趣的主题包括但不限于:尺寸从微米到毫米的设备、IC 兼容制造技术、其他制造技术、微观现象测量、理论结果、新材料和设计、微型执行器、微型机器人、微型电池、轴承、磨损、可靠性、电气互连、微型遥控以及适用于 MEMS 的标准。流体学、光学、生物医学工程等领域的应用实例和面向应用的设备也是主要关注点。
值得一提的是,Journal Of Microelectromechanical Systems已成功入选 SCIE(科学引文索引扩展板) 等国际知名数据库,这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来,该杂志一直保持着Bimonthly的出版周期,以高质量、高水平的学术内容著称。在JCR(Journal Citation Reports)分区等级中,该期刊荣获Q2评级。此外,其CiteScore指数达到6.2,该期刊2023年的影响因子达到2.5,再次验证了其优秀学术水平。
Journal Of Microelectromechanical Systems是一本未开放获取期刊,但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说,该期刊都是一份不可或缺的重要资源。
中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界,中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此,对于科研工作者来说,了解中科院SCI分区的标准和方法,以及具体的分区结果,对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。
CiteScore(或称为引用指数)是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数,这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。
自引率的计算公式为:自引率 = (期刊自己发表的文章被自己引用的次数) / (期刊自己发表的文章总数)。其中,期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文,包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高,可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。
中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版
Top期刊 | 综述期刊 | 大类学科 | 小类学科 |
否 | 否 | 工程技术 3区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
仪器仪表
PHYSICS, APPLIED
物理:应用
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
纳米科技
3区
3区
3区
4区
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按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 165 / 352 |
53.3% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 28 / 76 |
63.8% |
学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 99 / 140 |
29.6% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 87 / 179 |
51.7% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 168 / 354 |
52.68% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 37 / 76 |
51.97% |
学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 73 / 140 |
48.21% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 83 / 179 |
53.91% |
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||
6.2 | 0.744 | 1.187 |
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