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Scanning
  • 中科院分区：4区
  • CiteScore ：4.4

ScanningSCIE

国际简称：SCANNING 中文名称：扫描

Scanning杂志是一本工程技术-显微镜技术应用杂志。是一本国际优秀学术杂志，由Hindawi Limited出版，该期刊创刊于1978年，出版周期为Bimonthly，始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2022年12月升级版中，被归类为大类学科分区4区，显示出其优秀的学术水平和影响力。

  • ISSN：0161-0457

  • 出版地区：UNITED STATES

  • 出版周期：Bimonthly

  • E-ISSN：1932-8745

  • 创刊时间：1978

  • 出版语言：English

  • 是否OA：开放

  • 预计审稿时间： 较慢,6-12周

  • 是否预警：是

  • 研究方向：工程技术,显微镜技术

  • 年发文量：0

  • 研究类文章占比：91.84%

  • Gold OA文章占比：100.00%

  • H-index：43

  • 出版国人文章占比：0.4

  • 开源占比：1

  • 文章自引率：0.0212...

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杂志简介 期刊指数 中科院分区表 JCR 分区 CiteScore 分区 文章摘录 相关杂志

杂志简介

扫描为所有对扫描电子、扫描探针和扫描光学显微镜感兴趣的科学家提供了一种国际性和跨学科的快速信息交换媒介。具体感兴趣的领域包括与扫描显微镜相关的仪器的所有方面、相关显微镜技术、立体测量、立体学、分析技术和显微镜的新应用。

值得一提的是，Scanning已成功入选 SCIE（科学引文索引扩展板） 等国际知名数据库，这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来，该杂志一直保持着Bimonthly的出版周期，以高质量、高水平的学术内容著称。此外，其CiteScore指数达到4.4，该期刊2023年的影响因子达到0，再次验证了其优秀学术水平。

Scanning是一本开放获取期刊，但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了工程技术-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说，该期刊都是一份不可或缺的重要资源。

期刊指数

中科院SCI分区
CiteScore指数
自引率
发文量
影响因子

中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界，中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此，对于科研工作者来说，了解中科院SCI分区的标准和方法，以及具体的分区结果，对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。

CiteScore（或称为引用指数）是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数，这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。

自引率的计算公式为：自引率 = （期刊自己发表的文章被自己引用的次数） / （期刊自己发表的文章总数）。其中，期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文，包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高，可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。

中科院分区表

中科院 SCI 期刊分区 2022年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
否 否 工程技术 4区
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术
4区 4区

JCR 分区（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位

CiteScore 分区（2024年最新版）

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
4.4 0.471 0.832
学科类别 分区 排名 百分位
大类：Physics and Astronomy 小类：Instrumentation Q2 52 / 141

63%
大类：Physics and Astronomy 小类：Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 96 / 224

57%

文章摘录

  • Improving dimensional measurement from noisy atomic force microscopy images by non-local means filtering. Author: Chen Y. Journal: Scanning. 2016 Mar;38(2):113-20. doi: 10.1002/sca.21246. Epub 2015 Jul 21.
  • Correlation modeling between process condition of sandblasting and surface texture: A multi-scale approach. Author: Ho HS, Bigerelle M, Vincent R, Deltomb R. Journal: Scanning. 2016 May;38(3):191-201. doi: 10.1002/sca.21254. Epub 2015 Aug 6.
  • Scanning electron microscopy of the nail plate in onychomycosis patients with negative fungal culture. Author: Yue X, Li Q, Wang H, Sun Y, Wang A, Zhang Q, Zhang C. Journal: Scanning. 2016 Mar;38(2):172-6. doi: 10.1002/sca.21252. Epub 2015 Aug 20.
  • An ultrastructural study on corkscrew hairs and cigarette-ash-shaped hairs observed by dermoscopy of tinea capitis. Author: Lu M, Ran Y, Dai Y, Lei S, Zhang C, Zhuang K, Hu W. Journal: Scanning. 2016 Mar;38(2):128-32. doi: 10.1002/sca.21248. Epub 2015 Aug 24.
  • Parallel detection experiment of fluorescence confocal microscopy using DMD. Author: Wang Q, Zheng J, Wang K, Gui K, Guo H, Zhuang S. Journal: Scanning. 2016 May;38(3):234-9. doi: 10.1002/sca.21265. Epub 2015 Sep 2.
  • Two-photon excited fluorescence imaging of the pancreatic solid pseudopapillary tumor without hematoxylin and eosin stains. Author: Xu Y, Liao C, Chen J, Chen Y, Zhu X, Chen J. Journal: Scanning. 2016 May;38(3):245-50. doi: 10.1002/sca.21267. Epub 2015 Sep 1.
  • High-fidelity AFM scanning stage based on multilayer ceramic capacitors. Author: Chen J, Zhang LS, Feng ZH. Journal: Scanning. 2016 May;38(3):184-90. doi: 10.1002/sca.21253. Epub 2015 Sep 14.
  • Quantitative analysis of the cell-surface roughness and viscoelasticity for breast cancer cells discrimination using atomic force microscopy. Author: Wang Y, Xu C, Jiang N, Zheng L, Zeng J, Qiu C, Yang H, Xie S. Journal: Scanning. 2016 Jan 11. doi: 10.1002/sca.21300. [Epub ahead of print]

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