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Journal Of Electronics & Information Technology
  • 中科院分区：4区
  • JCR分区：Q4
  • CiteScore ：1.9

Journal Of Electronics & Information TechnologySCIE

国际简称：J ELECTRON INF TECHN 中文名称：电子与信息技术电子

Journal Of Electronics & Information Technology杂志是一本ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC应用杂志。是一本国际优秀学术杂志，由Science Press出版，出版周期为12 issues/year，始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2023年12月升级版中，被归类为大类学科分区4区，显示出其优秀的学术水平和影响力。

  • ISSN：1009-5896

  • 出版地区：PEOPLES R CHINA

  • 出版周期：12 issues/year

  • E-ISSN：1009-5896

  • 出版语言：Chinese

  • 是否OA：未开放

  • 预计审稿时间：

  • 影响因子：0.5

  • 是否预警：否

  • 研究方向：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

  • 年发文量：338

  • 研究类文章占比：98.82%

  • Gold OA文章占比：0.00%

  • 出版国人文章占比：0.98

  • 文章自引率：0.4285...

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杂志简介 期刊指数 中科院分区表 JCR 分区 CiteScore 分区 文章摘录 相关杂志

杂志简介

《电子与信息技术电子杂志》涵盖了电力电子领域的所有问题。包括功率转换器、可调速驱动器、可再生能源、电能质量和公用事业应用、分析、建模和控制、电力设备和组件、电力电子教育和其他应用的技术，提供平衡电力电子实践和理论的高标准内容。涵盖了电力电子领域的广泛应用和设备。每份手稿都经过至少两名匿名专家的严格同行评审。展示功率转换器、可调速驱动器、可再生能源和电能质量的技术。重点放在分析、建模和控制、电力设备和组件以及电力电子教育上

值得一提的是，Journal Of Electronics & Information Technology已成功入选 SCIE（科学引文索引扩展板） 等国际知名数据库，这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来，该杂志一直保持着12 issues/year的出版周期，以高质量、高水平的学术内容著称。在JCR（Journal Citation Reports）分区等级中，该期刊荣获Q4评级。此外，其CiteScore指数达到1.9，该期刊2023年的影响因子达到0.5，再次验证了其优秀学术水平。

Journal Of Electronics & Information Technology是一本未开放获取期刊，但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说，该期刊都是一份不可或缺的重要资源。

期刊指数

中科院SCI分区
CiteScore指数
自引率
发文量
影响因子

中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界，中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此，对于科研工作者来说，了解中科院SCI分区的标准和方法，以及具体的分区结果，对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。

CiteScore（或称为引用指数）是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数，这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。

自引率的计算公式为：自引率 = （期刊自己发表的文章被自己引用的次数） / （期刊自己发表的文章总数）。其中，期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文，包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高，可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。

中科院分区表

中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
否 否 工程技术 4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区

JCR 分区（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC ESCI Q4 329 / 352

6.7%
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC ESCI Q4 322 / 354

9.18%

CiteScore 分区（2024年最新版）

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
1.9 0.23 0.517
学科类别 分区 排名 百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering Q3 521 / 797

34%

文章摘录

  • Research on the Design Method of UHF Antenna under the Condition of Changing Tag Distribution Density br Author: Zuo, Lei; Cao, Xuebing; Zhu, Liangshuai; Ding, Yuqing; Sun, Mengting Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 158-167. DOI: 10.11999/JEIT211281
  • Multi-core Chip Dynamic Power Management Framework Based on Reinforcement Learning br Author: Zhuo, Cheng; Zeng, Xudong; Chen, Yufei; Sun, Songyu; Luo, Guojie; He, Qing; Yin, Xunzhao Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 24-32. DOI: 10.11999/JEIT220350
  • A Novel Logic-obfuscation Method to Resist Netlist-reverse Attack Based on Genetic Algorithm br Author: Zhao, Yiqiang; Kuai, Jun; Ma, Haocheng; Zhang, Qizhi; Gao, Ya; Ye, Mao; He, Jiaji Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 96-105. DOI: 10.11999/JEIT220059
  • Side Channel Analysis Optimization Method Based on Data Preprocessing Author: Zhao, Yiqiang; Wang, Qingya; Ma, Haocheng; Zhang, Qizhi; Ye, Mao; Wang, Hanning; He, Jiaji Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 49-58. DOI: 10.11999/JEIT211462
  • Discussion on Improving the Third Order Intersection Point of RadioFrequency Low Noise Amplifier br Author: Zhao, Jinxiang; Wang, Feng; Yu, Hanchao; Wang, Kuisong; Zhang, Shengli; Liang, Xiaoxin; Yan, Yuepeng Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 134-149. DOI: 10.11999/JEIT211164
  • Beamforming Research for Near-field Linear Sparse Array Based on Unmanned Aerial Vehicle Swarm br Author: Zhang, Yinan; Wang, Guangxue; Peng, Shirui; Leng, Yi Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 181-190. DOI: 10.11999/JEIT211452
  • Specific Emitter Identification Based on Continuous Learning and Joint Feature Extraction br Author: Zhang, Limin; Tan, Kaiwen; Yan, Wenjun; Zhang, Tingting; Tang, Miao Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 308-316. DOI: 10.11999/JEIT211176
  • Method for High Dynamic Range Imaging Based on Deep Guided and Self-learning br Author: Zhang, Junchao; Yang, Feifan; Shi, Wei; Chen, Jianlai; Zhao, Dangjun; Yang, Degui Journal: JOURNAL OF ELECTRONICS & INFORMATION TECHNOLOGY. 2023; Vol. 45, Issue 1, pp. 291-299. DOI: 10.11999/JEIT211188

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