Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics
  • 中科院分区:4区
  • CiteScore :2.7

Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And MicroelectronicsSCIE

国际简称:J VAC SCI TECHNOL B 中文名称:真空科学与技术杂志B:纳米技术与微电子学

Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics杂志是一本Materials Science-Materials Chemistry应用杂志。是一本国际优秀学术杂志,由AVS Science and Technology Society出版,始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2023年12月升级版中,被归类为大类学科分区4区,显示出其优秀的学术水平和影响力。

  • ISSN:2166-2746

  • E-ISSN:2166-2754

  • 出版语言:English

  • 是否OA:未开放

  • 预计审稿时间:

  • 是否预警:否

  • 研究方向:Materials Science,Materials Chemistry

  • 研究类文章占比:0.00%

  • Gold OA文章占比:0.00%

杂志简介

1983年,《真空科学技术杂志》A和B两种期刊在原《真空科学与技术杂志》拆分后创刊。JVSTA致力于发表关于材料、薄膜和等离子体界面和表面的原创研究报告、信件和评论文章。JVSTA发布的报告在基础层面推进了对界面和表面的基本理解,并利用这种理解来推进各种技术应用的最新进展。

值得一提的是,Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics已成功入选 SCIE(科学引文索引扩展板) 等国际知名数据库,这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来,该杂志一直保持着以高质量、高水平的学术内容著称。此外,其CiteScore指数达到2.7,

Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics是一本未开放获取期刊,但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说,该期刊都是一份不可或缺的重要资源。

期刊指数

中科院SCI分区
CiteScore指数

中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界,中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此,对于科研工作者来说,了解中科院SCI分区的标准和方法,以及具体的分区结果,对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。

CiteScore(或称为引用指数)是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数,这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。

中科院分区表

中科院 SCI 期刊分区 2023年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
工程技术 4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:应用
4区 4区 4区

CiteScore 分区(2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
2.7 0.328 0.702
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 448 / 797

43%

大类:Engineering 小类:Materials Chemistry Q3 192 / 317

39%

大类:Engineering 小类:Instrumentation Q3 86 / 141

39%

大类:Engineering 小类:Surfaces, Coatings and Films Q3 82 / 132

38%

大类:Engineering 小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q3 178 / 284

37%

大类:Engineering 小类:Process Chemistry and Technology Q3 47 / 73

36%

文章摘录

  • Observation of ground loop signals in GaN monolithically integrated devices Author: Ma, Xiao; Choi, Hoi Wai Journal: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B. 2023; Vol. 41, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1116/6.0002245

免责声明